仪器信息网2023年10月18-20举办第四届“半导体材料与器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会，围绕光电材料与器件、第三代半导体材料与器件、传感器与MEMS、半导体产业配套原材料等热点材料、器件和材料分析、可靠性测试、失效分析、缺陷检测和量测等热点分析检测技术，为国内广大半导体材料与器件研究、应用及检测的相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到相关专家的精彩报告。
为答谢广大用户，本次大会每个专场都设有一轮抽奖送专业图书活动。今日抽取的专业图书是《集成电路材料基因组技术》和《扫描电镜和能谱仪的原理与实用分析技术》。
一、主办单位：仪器信息网&电子工业出版社
二、会议时间：2023年10月18-20日
三、会议日程
第四届“半导体材料器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会 | |
时间 | 专场名称 |
10月18日全天 | 半导体材料分析技术新进展 |
10月19日 | 可靠性测试和失效分析技术 |
可靠性测试和失效分析技术（赛宝实验室专场） | |
10月20日上午 | 缺陷检测与量测技术 |
四、“半导体材料分析技术新进展”日程
时间 | 报告题目 | 演讲嘉宾 |
专场：半导体材料分析技术新进展 | ||
（10月18日） 专场主持人：汪正（中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员） | ||
9:30 | 等离子体质谱在半导体用高纯材料的分析研究 | 汪正（中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员） |
10:00 | 有机半导体材料的质谱分析技术 | 王昊阳（中国科学院上海有机化学研究所 高级工程师） |
10:30 | 牛津仪器显微分析技术在半导体中的应用进展 | 马岚（牛津仪器科技（上海）有限公司 应用工程师） |
11:00 | 透射电子显微镜在氮化物半导体结构解析中的应用 | 王涛（北京大学 高级工程师） |
11:30 | 集成电路材料国产化面临的性能检测需求 | 桂娟（上海集成电路材料研究院 工程师） |
午休 | ||
14:00 | 离子色谱在高纯材料分析中的应用 | 李青（中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员） |
14:30 | 拉曼光谱在半导体晶圆质量检测中的应用 | 刘争晖（中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 教授级高级工程师） |
15:00 | 半导体—离子色谱检测解决方案 | 王一臣（青岛盛瀚色谱技术有限公司 产品经理） |
15:30 | 宽禁带半导体色心的能量束直写制备及光谱表征 | 徐宗伟（天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 教授） |
16:00 | 专业图书介绍及抽奖送书 | 王天跃（电子工业出版社电子信息分社 编辑） |
五、参会方式
本次会议免费参会，参会报名请点击：
https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icsmd2023/
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