瑞昌明盛讯 2023年10月18-20日，瑞昌明盛联合电子工业出版社主办的第四届“半导体材料与器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会成功召开！本次大会共邀请到24位来自科研院所、第三方检测、工业和仪器企业的专家分享了精彩内容。会议共吸引约1100位行业从业人员报名，出席人数更是创历年新高！
回顾本次大会，在内容上打破此前以材料为主题的专场划分，聚焦半导体材料分析、可靠性测试和失效分析、缺陷检测和量测等检测技术，直播间里报告专家与听众充分交流，会议也收到“内容质量高”，“收获很大”等良好反馈。同时，瑞昌明盛也在线征集和听取了听众们对于会议内容更多的需求与期待，以保证下一届会议更好地帮助到网友们的工作。应广大网友强烈要求，现将征得本人同意的报告视频整理如下。点击“回放”即可进入视频播放页面。
| 半导体材料分析技术新进展 | ||
| 等离子体质谱在半导体用高纯材料的分析研究 | 汪正（中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员） | 回放 |
| 有机半导体材料的质谱分析技术 | 王昊阳（中国科学院上海有机化学研究所 高级工程师） | 回放 |
| 牛津仪器显微分析技术在半导体中的应用进展 | 马岚（牛津仪器科技（上海）有限公司 应用工程师） | 回放 |
| 透射电子显微镜在氮化物半导体结构解析中的应用 | 王涛（北京大学 高级工程师） | 无 |
| 集成电路材料国产化面临的性能检测需求 | 桂娟（上海集成电路材料研究院 工程师） | 无 |
| 离子色谱在高纯材料分析中的应用 | 李青（中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员） | 回放 |
| 拉曼光谱在半导体晶圆质量检测中的应用 | 刘争晖（中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 教授级高级工程师） | 回放 |
| 半导体—离子色谱检测解决方案 | 王一臣（青岛盛瀚色谱技术有限公司 产品经理） | 回放 |
| 宽禁带半导体色心的能量束直写制备及光谱表征 | 徐宗伟（天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 教授） | 回放 |
| 可靠性测试和失效分析技术 | ||
| 碳化硅器件的新型电力系统应用与可靠性研究 | 田鸿昌（中国电气装备集团科学技术研究院有限公司 电力电子器件专项负责人） | 回放 |
| 集成电路激光试验测试技术研究 | 马英起（中国科学院国家空间科学中心 正高级工程师） | 无 |
| 失效半导体器件检测技术及案例分享 | 江海燕（北京软件产品检测检验中心 集成电路测评实验室项目经理） | 回放 |
| 半导体元器件材料分析、失效分析技术与案例解析 | 贾铁锁（甬江实验室微谱（浙江）技术服务有限公司 失效分析工程师） | 无 |
| 可靠性测试和失效分析技术（赛宝实验室专场） | ||
| 高端集成电路5A分析评价技术 | 师谦（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师） | 无 |
| 光学显微分析技术在半导体失效分析中的应用 | 刘丽媛（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师） | 无 |
| 集成电路振动、冲击试验评价 | 邓传锦（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师） | 无 |
| 光发射显微镜原理及在失效分析中的应用 | 蔡金宝（工业和信息化部电子第五研究所 部门主任/高级工程师） | 无 |
| 半导体集成电路热环境可靠性试验方法与标准 | 陈锴彬（工业和信息化部电子第五研究所 工程师） | 无 |
| 电子制造中的可靠性工程 | 邹雅冰（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师/工艺总师） | 无 |
| 集成电路静电放电失效分析与评价 | 何胜宗（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师） | 无 |
| 缺陷检测与量测技术 | ||
| 半导体芯片量检测技术及装备 | 杨树明（西安交通大学 教授） | 无 |
| 国家纳米计量体系与半导体产业应用 | 施玉书（中国计量科学研究院纳米计量研究室主任 主任/副研究员） | 回放 |
| 面向集成电路微纳检测设备产业的自溯源纳米长度计量体系 | 邓晓（同济大学 副教授） | 无 |
